透射電鏡(TEM)實驗服務(wù)

使用說明書

僅供體外研究使用，不用于臨床診斷!

第1版（2016年04月修訂）

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率，目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。

透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50-100nm,所以透射電鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。

服務(wù)內(nèi)容

可應(yīng)用于細(xì)胞樣本、微生物樣本以及組織塊樣本等結(jié)構(gòu)形態(tài)的觀察

服務(wù)流程

1.將需檢測樣本運(yùn)輸?shù)轿夜净蛘哂晌覀児咎峁颖荆?/p>

2.根據(jù)客戶要求對需檢測樣本進(jìn)行透射電子顯微鏡實驗，提供客戶影像圖片。

設(shè)備介紹

JEM-1400 120kV透射電子顯微鏡

客戶提供的材料

1、固定好的檢測樣本或新鮮組織樣本/2、確定取材部位，盡量減小牽拉、挫傷與擠壓等機(jī)械損傷，組織體積一般不超過1mm×1mm×1mm ，迅速投入電鏡固定液4℃固定2-4h。