掃描電鏡(SEM)實(shí)驗(yàn)服務(wù)

使用說明書

僅供體外研究使用，不用于臨床診斷!

第1版（2016年04月修訂）

掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope ,SEM），它具有制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)。近年來，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、等學(xué)科的領(lǐng)域中。掃描電鏡的電子束不穿過樣品，僅在樣品表面掃描激發(fā)出二次電子。獲得圖像為立體形象，反映標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。因此掃描電鏡標(biāo)本無需制成薄片。掃描電鏡最基本的功能是對各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，觀察可以是一個(gè)樣品的表面，也可以是一個(gè)切開的面，或是一個(gè)斷面。

服務(wù)內(nèi)容

√觀察生物試樣、進(jìn)行動(dòng)態(tài)觀察等。

√材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體材料與器件。

服務(wù)流程

1.將需檢測樣本運(yùn)輸?shù)轿夜净蛘哂晌覀児咎峁颖荆?/p>

2.根據(jù)客戶要求對需檢測樣本進(jìn)行掃描電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)，提供客戶影像圖片。

設(shè)備介紹

SU 82220 場發(fā)射掃描電子顯微鏡

客戶提供的材料

實(shí)驗(yàn)動(dòng)物或需檢測樣本；實(shí)驗(yàn)動(dòng)物或需檢測樣本的具體要求。